皮膚科

文章来源：由「百度新聞」平台非商業用途取用"http://baijiahao.baidu.com/s?id=1648720920936392057&wfr=spider&for=pc"

快點PCB發布時間：10-2917:53可測試性設計DFT可測性設計（DFT）是適應集成電路的發展的測試需求所出現的一種技術，主要任務是設計特定的測試電路，同時對被測試電路的結構進行調整，提高電路的可測性，即可控制性和可觀察性。1、可控性：指的是是否可以從電路的初級輸入控制內部引線邏輯狀態。一條鏈路可以通過電路的初級輸入端（PI）控制其狀態，則這條鏈路稱是可控制的，否則就是不可控制，見下圖，二輸入與門有兩個輸入端A和B，如果A直接接地，B是網絡EC的輸出信號。在這個電路中，無論初級輸入端PI的值是什麼，與門的輸出端C始終為0，不可能為1，則C是1不可控的。2、可觀察性：指的是是否可以從電路的初級輸出端或其他特殊的測試點觀察電路內部引線邏輯狀態。內部引線A的值可以通過某種方式傳播到PO，在上圖中，由于C的值始終為0，并且是由于A的值為0所致。因此在C位置就不能判斷B點的邏輯值究竟是什麼。假如C是電路唯一的PO，則內部引線B就是不可觀察的。按測試結構分，DFT目前比較成熟的技術主要有掃描設計（ATPG）、內建自測試（BIST）、邊界掃描設計（BSCAN）等。其中ATPG用于測試芯片的數字邏輯電路，BIST多用于測試芯片的片上內存，BSCAN用于測試芯片的IO端口。（圖文整理自網絡。）相關搜索電路第五版電路邱關源中國集成電路現狀集成電路封裝測試集成電路引腳識別集成電路的發展

關鍵字標籤：enus.cheer-time.com.tw